作者单位
摘要
哈尔滨工业大学 控制与仿真中心,黑龙江 哈尔滨 150080
激光导引头测试系统是对激光导引头进行参数标定及性能测试的专用测试设备,其性能和精度决定了导引头的品质。为了提高某激光导引头测试系统的性能,抑制时变周期干扰对测试系统的影响,提出一种基于位置域的迭代学习控制方法。通过对不同转速下干扰成分的时域/位置域频谱分析,得到时变周期干扰具有角位置定周期的特征,基于迭代学习的思想提出一种位置域的迭代学习控制结构,依据算法的收敛性条件和滤波器的相位延迟特性,给出控制参数的整定准则和相位补偿方法,并对其应用效果进行了实验验证。在最大转速指令下的实验表明,采用位置域迭代学习控制方法后,角位置稳态跟踪精度提高了65.8%,在此基础上,对位置域迭代周期进行修正,角位置稳态跟踪精度进一步提高了61.5%。
激光导引头测试系统 迭代学习控制 位置域 时变周期干扰 laser seeker testing system iterative learning control spatial domain time-varying periodic disturbance 
红外与激光工程
2019, 48(9): 0913002
作者单位
摘要
大连理工大学 物理系 近场光学与纳米技术研究所,辽宁 大连 116024
光镊技术,又称光学捕获技术,它是利用光的辐射压力来捕获和操纵包括电介质颗粒、生物细胞及生物大分子在内的微小粒子的。近场光镊技术利用近场光学倏逝场随距离急剧衰减的特征,可显著地降低捕获粒子的尺寸,实现纳米捕获。追踪了近场光镊技术的最新进展,包括全内反射相干倏逝场、近场光学镀膜光纤探针尖、激光照明金属探针尖和聚焦倏逝场用于近场光学捕获,并对其进行了比较,分析了它们存在的主要问题和未来发展方向。
光镊 光学捕获 辐射压力 近场光学 倏逝场 optical tweezers optical trapping radiation pressure near field optics evanescent field 
光学技术
2007, 33(2): 0292
作者单位
摘要
大连理工大学物理系 近场光学与纳米技术研究所,辽宁 大连 116024
激光捕获技术是利用光辐射力来捕捉、移动和操纵微粒的先进技术。光镊即单光束梯度力光阱是通过在高度会聚的激光束束腰附近所产生的极高的场强梯度来形成皮牛顿量级的力,可以三维地捕获和操纵微小粒子。阐述了激光捕获技术的模型和原理以及系统的基本结构;追踪了激光捕获技术的最新研究进展;介绍了非高斯型光阱、光纤光阱和全息光镊等几种特殊形式,并分析了每种形式的特点。展望了激光捕获技术的发展前景。
激光捕获 光镊 光阱 辐射力 梯度力 散射力 laser trapping optocal tweezers optical trap radiation force radient force scattering force 
光学技术
2006, 32(2): 0311
Author Affiliations
Abstract
Institute of Near-Field Optics and Nanotechnology, Department of Physics, Dalian University of Technology, Dalian 116024
Optical trapping is an increasingly important technique for manipulating and probing matter ranging from nanometers to millimeters. In this paper, the theories of optical trapping to date are reviewed briefly. The typical conventional far field trapping design is introduced. A 5-micron yeast cell is trapped and manipulated with a 1.25 numerical aperture (NA) oil-immersion, 100X magnification objective by a 780 nm trapping beam at 16 mW in our experiment. Furthermore, the development of near-field optical trapping associated with evanescent wave is also discussed. Several proposed near-field trapping schemes, respectively using laser-illuminated metal tip, metal-coated fiber probe in the scanning near-field optical microscopy (SNOM) and focused evanescent wave, are also described.
140.7010 Trapping 290.4210 Multiple scattering 290.5870 Scattering, Rayleigh 170.5810 Scanning microscopy 
Chinese Optics Letters
2005, 3(0s): 71

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